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日本理学Simultix 15同步波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF),上照射式

Rigaku Simultix 15 上照射同步波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)已被普遍应用于需要大宗样品量和精度的行业(如钢铁和水泥)历程控制的元素剖析工具。近 1,000 台 Simultix XRF 仪器已交付给全球客户。随着这些年的手艺前进,客户的要求也变得先进和多样化。Simultix 15 WDXRF 元素剖析仪专为知足这些一直转变的需求而开发。它提供了显着刷新的性能、功效和可用性。紧凑而智能的 Simultix 15 是一款功效强盛的元素剖析工具,在许多工业行业都体现出卓越的性能。 优点

快速、准确的元素剖析:多达 30 个(和可选的 40 个)离散和优化的元素通道和 4 kW(或可选的 3 kWX 射线管功率,可提供无与伦比的剖析速率和迅速度。

可配备 48 位自动进样器 (ASC),以及样品加载单位提供来自第三方样品制备自动化系统的右侧或左侧传送带进料,实现完全自动化的 XRF 元素剖析,很是适合于快速大宗的样品剖析。

针对特定元素剖析应用举行了定制,具有一组针对感兴趣元素的离散、优化的牢靠通道。所有通道同步丈量:没有移动部件和时间延迟,成为在获得效果的时间、精度、可靠性、降低本钱和提高仪器寿命方面的最佳计划。


清静性

接纳上照射设计,再不必担心污染光路,整理贫困和整理时间增添等问题。


■ 应用领域

固体、粉末和合金的高通量元素剖析。


■ 手艺参数

新型合成多层晶体RX85”爆发的强度比现有的 Be-Ka 和 B-Ka 多层晶体高约 30%。

Simultix 15 配备 XRD 通道,可以通过 XRF 和 XRD 举行定量剖析。

可选的双曲面晶体可以配备到牢靠通道。与单曲面晶体相比,双曲面晶体的强度增添。

Simultix 15软件接纳与ZSX软件相同的定量剖析流程条,增强了定量条件设置的可操作性。

重型和轻型扫描测角仪:可选的宽元素规模测角仪支持无标样半定量FP,可用于非通例元素的定性或定量测定。

牢靠通道的可选配景丈量 (BG),从而刷新校准拟合和卓越的精度。

自动压力控制 (APC)

可选的自动压力控制 (APC) 系统在光学室中坚持恒定的真空度,以显着提高轻元素剖析精度。

当使用康普顿散射比法举行矿石和精矿剖析时,可选的定量散射比法天生用于散射比校准的理论 alpha。

标准的 30 个牢靠通道设置,可以选择升级到 40 通道。

可选的样品加载装置提供来自第三方样品制备自动化系统的传送带进料。


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